泽权动态 | 泽权仪器携手百年奥林巴斯守护林内百年匠心品质

　　Vanta Element-S测试数据通过了上海计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心）的计量，仪器结果符合客户需要的精度要求，图为工厂人员试用XRF测试标准样品

　　Vanta Element系列分析仪可以在非常艰苦的工业环境中快速获得分析结果，并在很大程度上提高生产力。

　　今年上半年奥林巴斯授权一级代理泽权仪器在国内率先引进了Vanta Element-S分析仪，该款分析仪搭载了新一代SDD探测器，并采用了与之前Vanta相同的电子器件。凭借其优异的性能和相较全功能旗舰款Vanta系列更优惠的价格，迅速得到了市场的青睐。本次上海林内有限公司采购的Vanta Element-S分析仪包含了合金检测（PMI）、镀层分析和RoHS筛查这三大核心应用。


　　高效检测，精准识别

　　使用分析仪器在对材料进行分拣的过程中，庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分缓慢。Vanta Element-S分析仪配备有硅漂移探测器（SDD），可对元素进行分析，并在几秒内对合金进行牌号辨别和分拣，能够快速有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。完成对样品的检测之后，屏幕上会显示出清晰的牌号ID，以及镁、铝和硅等轻元素的比较信息。同时，分析仪的SDD探测器可以区分类似303和304不锈钢、6061和1100铝等相似的合金牌号，精准完成识别。

　　Vanta Element-S分析仪的镀层模式
　　元素配置：可分析的元素为原子数大于钛的元素，包括钛元素。同一种元素不能在多个涂层中被重复分析，包括基底材料。
　　可选的实证单点校准：用户可以使用一种内部认证的样本对校准进行调整。
　　层的数量：Vanta分析仪的镀层模式可以多测量3层材料的厚度，不过各层材料要足够薄，以使X射线从底层材料返回到探测器。
　　基底：可以分析任何基底材料，只要基底材料中不包含涂层材料中存在的元素。

　　Vanta Element-S分析仪的RoHS模式
　　Vanta XRF分析仪已被认可为一种现场无损的RoHS筛查工具。使用Vanta分析仪可以对消费产品进行筛查，发现其中的铅（Pb）、镉（Cd）、砷（As）、汞（Hg）、铬（Cr）及其它有毒金属，以判断产品是否符合RoHS的要求。


　　坚固耐用，操作便捷

　　鉴于金属检测等工作常常需要在较为恶劣的环境下开展，潮湿、灰尘会对仪器的性能产生较大影响。Vanta Element-S分析仪通过了IP54评级标准，具备防尘和防潮特性，而且通过了从1.2米（4英尺）高处坠落的测试（MIL-STD-810G），不会因偶尔掉落或推挤而损坏，可在–10°C到45°C的温度范围内无压力持续运行24小时。
　　为了方便进行野外作业，Vanta Element-S分析仪还配备了不锈钢面板和带有Kapton（聚酰亚胺）网格背衬的Prolene（聚丙烯纺织纤维）窗口。野外作业过程中需要更换窗口时，无需使用工具即可轻松揭下旧窗口，贴上新窗口。同时，分析仪体型小巧，仅重1.32公斤，方便携带，操作便携性堪比智能手机，大大提升了操作人员的工作效率。