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泽权动态 | 泽权仪器携手百年奥林巴斯守护林内百年匠心品质

2020-12-30    195
  近日,泽权仪器在上海林内有限公司完成一台奥林巴斯Vanta Element-S多应用手持式XRF分析仪交机培训工作。Vanta Element-S是今年奥林巴斯推出的高性价比新款机型,不仅可以在合金分析中,实现对Mg、Al、Si等轻元素的检测,还可涵盖目前奥林巴斯手持式XRF所有应用。

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  Vanta Element-S测试数据通过了上海计量测试技术研究院(华东国家计量测试中心)的计量,仪器结果符合客户需要的精度要求,图为工厂人员试用XRF测试标准样品

  Vanta Element系列分析仪可以在非常艰苦的工业环境中快速获得分析结果,并在很大程度上提高生产力。

  今年上半年奥林巴斯授权一级代理泽权仪器在国内率先引进了Vanta Element-S分析仪,该款分析仪搭载了新一代SDD探测器,并采用了与之前Vanta相同的电子器件。凭借其优异的性能和相较全功能旗舰款Vanta系列更优惠的价格,迅速得到了市场的青睐。本次上海林内有限公司采购的Vanta Element-S分析仪包含了合金检测(PMI)、镀层分析和RoHS筛查这三大核心应用。

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  高效检测,精准识别

  使用分析仪器在对材料进行分拣的过程中,庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分缓慢。Vanta Element-S分析仪配备有硅漂移探测器(SDD),可对元素进行分析,并在几秒内对合金进行牌号辨别和分拣,能够快速有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。完成对样品的检测之后,屏幕上会显示出清晰的牌号ID,以及镁、铝和硅等轻元素的比较信息。同时,分析仪的SDD探测器可以区分类似303和304不锈钢、6061和1100铝等相似的合金牌号,精准完成识别。

  Vanta Element-S分析仪的镀层模式
  元素配置:可分析的元素为原子数大于钛的元素,包括钛元素。同一种元素不能在多个涂层中被重复分析,包括基底材料。
  可选的实证单点校准:用户可以使用一种内部认证的样本对校准进行调整。
  层的数量:Vanta分析仪的镀层模式可以最多测量3层材料的厚度,不过各层材料要足够薄,以使X射线从底层材料返回到探测器。
  基底:可以分析任何基底材料,只要基底材料中不包含涂层材料中存在的元素。

  Vanta Element-S分析仪的RoHS模式
  Vanta XRF分析仪已被认可为一种现场无损的RoHS筛查工具。使用Vanta分析仪可以对消费产品进行筛查,发现其中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)、铬(Cr)及其它有毒金属,以判断产品是否符合RoHS的要求。


  坚固耐用,操作便捷

  鉴于金属检测等工作常常需要在较为恶劣的环境下开展,潮湿、灰尘会对仪器的性能产生较大影响。Vanta Element-S分析仪通过了IP54评级标准,具备防尘和防潮特性,而且通过了从1.2米(4英尺)高处坠落的测试(MIL-STD-810G),不会因偶尔掉落或推挤而损坏,可在–10°C到45°C的温度范围内无压力持续运行24小时。
  为了方便进行野外作业,Vanta Element-S分析仪还配备了不锈钢面板和带有Kapton(聚酰亚胺)网格背衬的Prolene(聚丙烯纺织纤维)窗口。野外作业过程中需要更换窗口时,无需使用工具即可轻松揭下旧窗口,贴上新窗口。同时,分析仪体型小巧,仅重1.32公斤,方便携带,操作便携性堪比智能手机,大大提升了操作人员的工作效率。

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类似于智能手机的用户界面,使用方便易于学习
有助于简化用户的培训过程

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